ASTM F397-2002 用两点探针法测定硅棒电阻率的标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-10 02:17:00 浏览:8087 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforResistivityofSiliconBarsUsingaTwo-PointProbe
【原文标准名称】:用两点探针法测定硅棒电阻率的标准试验方法
【标准号】:ASTMF397-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;棒材;电子工程;硅;耐力
【英文主题词】:polysilicon;resistivity;silicon;two-pointprobe
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoversthemeasurementoftheresistivityofsingle-crystalbarshavingcrosssectionsthatareuniforminareaandsquare,rectangularorroundinshape,andhavi
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:

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